X Işını Kristalografisi, bir kristalin atomlarının 3 boyutlu uzayda dizilişini belirlemek için kullanılan bilimsel bir yöntemdir. Bu teknik, çoğu kristalin atomları arasındaki boşluktan yararlanarak, bunları, yaklaşık 1 angstrom (10-8 cm) düzeyinde dalga boylarına sahip olan X ışını için bir kırınım gradyanı olarak kullanır. X Işını Kristalografisi, DNA'nın şeklini tespit etmek de dâhil birçok büyük bilimsel atılımda rol oynamıştır.
Wilhelm Röntgen, 1895 yılında X ışınlarını keşfetti; ancak X ışınlarının doğasının parçacık mı yoksa elektromanyetik dalga mı olduğu 1912 yılına kadar tartışma konusuydu. Eğer dalga fikri doğruysa, araştırmacılar, bu ışığın dalga boyunun 1 angstrom (kısaca Å) düzeyinde olması gerektiğini biliyorlardı ve bu kadar küçük dalga boylarının kırınım ve ölçümü, ışıkla aynı büyüklükte aralıklı bir gradyan gerektireceğinin de farkındalardı.